微區(qū)X射線熒光光譜分析技術(shù)是對不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進(jìn)行高靈敏度的、非破壞性的元素分析的首選方法。采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡將激 發(fā)光聚焦到非常小的區(qū)域，以獲得極佳的空間分辨率，進(jìn)行快速分析。任何類型的樣品都可以通過簡單的樣品制備甚至不制備直接進(jìn)行分析。

測定鍍層樣品厚度及成分

   采用X射線熒光技術(shù)的M4可以分析薄鍍層樣品，如印刷電路板、金屬或塑料件，包括單層鍍層和多層鍍層。XSpect軟件采用無標(biāo)樣基本參數(shù)法，可以同時計算鍍層厚度和鍍層組成。使用標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)一步提高定量分析的準(zhǔn)確性

RoHS檢測

    測量一個PCB樣品。u安蘇的面分布圖顯示了下列元素的分布情況：Br(綠色）、Cu（紅色）、Au（黃色）、Pb（白色）和Sn（粉紅色）

圖像的原始大小：250×75像素

測量時間：0.15s/像素

 

主要特點(diǎn)：
  M4 TORNADO采用了全新的技術(shù)，為各種用戶提供了最佳的分析性能和非常方便的操控性。
  采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡，照射光斑最小，空間分辨率最高。
  渦輪增速X-Y-Z樣品臺，借助放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)獲得高品質(zhì)的樣品影像，可在“飛行中”進(jìn)行元素分布分析。

  高強(qiáng)度的X射線光管與多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡相結(jié)合，確保在非常小的照射區(qū)域內(nèi)獲得非常高的激發(fā)強(qiáng)度。采用濾光片和可以同時使用的配有不同靶材的雙光管，可以根據(jù)不同的分析要求，優(yōu)化激發(fā)光譜。
  使用XFlash®探測器超高速地獲取樣品圖譜，另外，使用多個探測器可以進(jìn)一步提高測量速度。
采用無標(biāo)樣分析法精確定量分析塊狀樣品，精確分析多層膜樣品。

  可抽真空的樣品室配有自動門，大尺寸的樣品室可以放置各種尺寸的樣品。通過兩個放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)觀察樣品（整體觀察和分析區(qū)域的細(xì)致觀察），便捷進(jìn)樣功能和自動對焦功能可以進(jìn)行快速而精確的定位。通過用戶編輯的X-Y-Z樣品臺運(yùn)行程序可實(shí)現(xiàn)重復(fù)測量。

行業(yè)應(yīng)用：

1. 地球科學(xué)（巖心、巖石、沉淀物、微體化石、年輪等多元素分布成像）

2. 司法鑒定、法醫(yī)及痕量分析（對衣物上的彈孔進(jìn)行射擊殘留物GSR分析）

3. 藝術(shù)與考古(對文物進(jìn)行顏料、色料的成分分析，修復(fù)文物)

4. 質(zhì)量控制與故障分析儀（電子和電子部件元素分析，ROHS分析）

5. 發(fā)動機(jī)部件、電機(jī)/潤滑油（識別電機(jī)/潤滑油中的發(fā)動機(jī)磨損產(chǎn)物）

6. 生命科學(xué)（檢查樹木橫斷面/葉子/樹根年輪）

7. 材料科學(xué)（鋼材腐蝕檢驗）

8. 環(huán)境科學(xué)(土壤重金屬、污水污泥重金屬分析、空氣和城市廢物)

過濾器上的薄膜（空氣濾膜）