2000年前后,國(guó)內(nèi)電子、通信行業(yè)的迅猛發(fā)展,帶來電鍍行業(yè)的廣泛需求。應(yīng)國(guó)際貿(mào)易和質(zhì)量體系認(rèn)證的需求,許多企業(yè)工廠紛紛購(gòu)置了相關(guān)的鍍層厚度檢測(cè)儀器和設(shè)備,同時(shí)也帶來鍍層膜厚量值傳遞和溯源問題。經(jīng)過10多年的努力, 現(xiàn)在的x熒光膜厚測(cè)試儀能夠準(zhǔn)確的測(cè)量微小面積的鍍層厚度，測(cè)量精度達(dá)到納米級(jí),已被全世界電子零部件、印制電路板、汽車零部件、各種電鍍產(chǎn)品生產(chǎn)及相關(guān)廠商廣泛使用和認(rèn)可。
膜厚測(cè)試儀利用螢光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類。
X射線的能量穿過金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過這樣的原理，我們?cè)O(shè)計(jì)出：膜厚測(cè)試儀也可稱為膜厚測(cè)量?jī)x，又稱金屬涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故目前市場(chǎng)上最普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。
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