詳細(xì)說明
儀器簡介：
掃描探針顯微鏡(SPM)平臺是為了在納米尺度研究樣品的表面性質(zhì)而設(shè)計(jì)的。它能夠讓我們在幾微米到幾個(gè)埃的尺寸下肉眼觀察并定量測量樣品的力學(xué)性質(zhì)（硬度，彈性，粘度），電學(xué)性質(zhì)（導(dǎo)電性，電容性，表面電荷分布）以及磁的性質(zhì)。Solver 平臺擁有超過40 種測量方法，并且實(shí)現(xiàn)在大氣，氣氛控制以及液體環(huán)境下進(jìn)行工作。
技術(shù)參數(shù)：
測量模式： STM/ AFM (接觸 + 輕敲+非接觸)/ 橫向力/ 相位/ 力調(diào)制/力譜/粘附力/ 磁力/ 靜電力/ 開爾文/ 擴(kuò)展電阻/納米壓痕/納米刻蝕: AFM (電壓刻蝕 + 力刻蝕)
掃描方式：樣品掃描、針尖掃描、雙掃描
測量頭部：AFM和SPM，可選配液相模式
最大樣品尺寸：樣品掃描：直徑40mm，厚度10mm。針尖掃描：樣品無限制
XY樣品定位裝置：移動范圍5×5um，精度5um
光學(xué)系統(tǒng)：根據(jù)客戶需求配置
樣品溫度控制：室溫~130℃
主要特點(diǎn)：
Solver P47-PRO SPM 是一種可以在空氣、液體和室溫～ 130°C 的可控氣氛下對不同的樣品進(jìn)行高精度綜合分析的通用儀器。此型號不僅適合小公司或?qū)W校的試驗(yàn)室使用，同樣適合大的研究中心使用。其現(xiàn)代化的設(shè)計(jì)提供了最高的測量精度和大量的SPM技術(shù)?？蛇x配獨(dú)一無二的雙掃描結(jié)構(gòu)可以將掃描范圍擴(kuò)展到200x200um。該型號儀器現(xiàn)已裝備到全世界600多個(gè)實(shí)驗(yàn)室，其中中國大陸正在使用的用戶達(dá)40多個(gè)。
